demetallization process
デメタル化プロセス
undergoing demetallization
デメタル化を受けている
prevent demetallization
デメタル化を防止する
demetallization study
デメタル化研究
post-demetallization treatment
デメタル化後の処理
demetallization effect
デメタル化の効果
accelerate demetallization
デメタル化を加速する
demetallization analysis
デメタル化分析
initial demetallization
初期のデメタル化
complete demetallization
完全なデメタル化
the circuit board underwent demetallization during the harsh environmental testing.
回路基板は厳しい環境試験中に脱金属化を経ました。
demetallization of the silicon wafer can significantly impact device performance.
シリコンウエハーの脱金属化は、デバイスの性能に大きな影響を与えることがあります。
preventing demetallization is crucial for long-term reliability in microelectronics.
微細電子機器における長期的な信頼性のためには、脱金属化の防止が不可欠です。
we studied the mechanisms behind demetallization in aluminum interconnects.
アルミニウム配線における脱金属化のメカニズムについて研究しました。
demetallization can be accelerated by elevated temperatures and humidity.
高温と湿度によって脱金属化は加速されることがあります。
the passivation layer helps to mitigate demetallization effects on the surface.
絶縁層は表面の脱金属化の影響を緩和するのに役立ちます。
post-etch demetallization is a common concern in semiconductor manufacturing.
エッチング後の脱金属化は半導体製造において一般的な懸念です。
understanding demetallization pathways is key to designing robust devices.
脱金属化の経路を理解することは、頑丈なデバイスを設計する鍵です。
demetallization testing is a standard procedure in our quality control process.
脱金属化試験は、当社の品質管理プロセスにおける標準的な手順です。
the goal is to minimize demetallization and extend the device lifespan.
目標は脱金属化を最小限に抑え、デバイスの寿命を延ばすことになります。
electromigration can contribute to demetallization in integrated circuits.
電子移動は、集積回路における脱金属化に寄与する可能性があります。
demetallization process
デメタル化プロセス
undergoing demetallization
デメタル化を受けている
prevent demetallization
デメタル化を防止する
demetallization study
デメタル化研究
post-demetallization treatment
デメタル化後の処理
demetallization effect
デメタル化の効果
accelerate demetallization
デメタル化を加速する
demetallization analysis
デメタル化分析
initial demetallization
初期のデメタル化
complete demetallization
完全なデメタル化
the circuit board underwent demetallization during the harsh environmental testing.
回路基板は厳しい環境試験中に脱金属化を経ました。
demetallization of the silicon wafer can significantly impact device performance.
シリコンウエハーの脱金属化は、デバイスの性能に大きな影響を与えることがあります。
preventing demetallization is crucial for long-term reliability in microelectronics.
微細電子機器における長期的な信頼性のためには、脱金属化の防止が不可欠です。
we studied the mechanisms behind demetallization in aluminum interconnects.
アルミニウム配線における脱金属化のメカニズムについて研究しました。
demetallization can be accelerated by elevated temperatures and humidity.
高温と湿度によって脱金属化は加速されることがあります。
the passivation layer helps to mitigate demetallization effects on the surface.
絶縁層は表面の脱金属化の影響を緩和するのに役立ちます。
post-etch demetallization is a common concern in semiconductor manufacturing.
エッチング後の脱金属化は半導体製造において一般的な懸念です。
understanding demetallization pathways is key to designing robust devices.
脱金属化の経路を理解することは、頑丈なデバイスを設計する鍵です。
demetallization testing is a standard procedure in our quality control process.
脱金属化試験は、当社の品質管理プロセスにおける標準的な手順です。
the goal is to minimize demetallization and extend the device lifespan.
目標は脱金属化を最小限に抑え、デバイスの寿命を延ばすことになります。
electromigration can contribute to demetallization in integrated circuits.
電子移動は、集積回路における脱金属化に寄与する可能性があります。
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